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    A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀

    更新時間：2024-01-18

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    A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀，采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。低檢測下限可達0.08µm ，在全球同類產品中都處于先地位。 大量程激光粒度儀A22的推出，可以替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀，讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效，使用更加便捷。
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